Beschreibung der Messmethode
Während bei der gewöhnlichen Computertomografie die räumliche Absorption eines Objekts abgebildet werden, sind es im Phasen- und Dunkelfeldkontrast der durch die Probe verursachte Phasenschub sowie die Streueigenschaften. Am IAM-WK wird dies durch einen 2- bzw. 3-Gitter Talbot-Lau Interferometer mit einer Mikrofokusröhre als Röntgenquelle umgesetzt. Ziel ist es hierbei vor allem hohe Auflösungen für materialwissenschaftliche Fragestellungen zu erzielen, welche durch die geringe Brennfleckgröße der Mikrofokusröhre realisiert werden sollen.
Schematische Darstellung des Phasen-/Dunkelfeldkontrast-Aufbaus am KIT/IAM-WK ©06
Spezifikationen
| Größe |
Wert |
||
| Energie | 20/33/50 keV | ||
| Sehfeld | 10 cm x 10 cm | ||
| Auflösung | 100 µm | ||
| Belichtungszeit | 1 s - 10 s | ||
| Max. Probenmasse | 50 kg | ||
| Max. Probengröße | 10 cm x 10 cm |
Probenumgebung
Der Aufbau befindet sich in einer strahlensicheren, klimatisierten Bleihütte und ist auf einem Granitblock gelagert, welcher zur Dämpfung externer Vibrationen dient. Die Proben werden auf einem Drehteller mit Ø 50 cm positioniert.
Probenumgebung in der Bleihütte: Zu sehen sind Phasen- und Analysatorgitter, dazwischen der Drehteller und die Mikrofokusröhre im Hintergrund ©06
Anwendungsbeispiel
Im Zuge von Analysen an Reibkontaktmaterialien aus unterschiedlichen Kombinationen von faserverstärktem Papier für Kupplungsscheiben stößt die gewöhnliche, absorptionsbasierte Computertomografie an ihre Grenzen. Um der Problematik der Unterscheidbarkeit von Fasern und Papier (beides kohlenstoffbasierte Materialien) Herr zu werden, wurden die Proben im Dunkelfeldkontrast untersucht. Eine Unterscheidung der faserreichen (höherer Kontrast) und faserarmen (niedrigerer Kontrast) Bereiche war somit möglich.
Dunkelfeldaufnahme eines Reibkontaktmaterials aus faserverstärktem Papier ©06
Veröffentlichungen
-
Ansprechpartner
Institution: KIT/IAM-WK
Name: Dipl.-Phys. Jens Maisenbacher
Email: 
Tel: #49-(0)721-608-44161